• HOME >
  • ニュース >
  • IEEE VLSI Test Symposium 2016でのデータマイニング応用による車載品質改善手法について招待講演による発表のお知らせ

IEEE VLSI Test Symposium 2016でのデータマイニング応用による車載品質改善手法について招待講演による発表のお知らせ


2016/04/20

 当社は、高速インターフェースや画像処理分野で世界をリードするミックスドシグナルLSI企業ですが、この度、当社が車載機器市場向け製品で取り組んだ品質改善事例について、世界最大の技術国際学会である米国電気電子学会(IEEE)が4月25日から4月27日まで米国ラスベガスで開催するIEEE VSLI Test Symposium 2016において招待講演により発表することとなりましたのでお知らせします。

 IEEE VLSI Test Symposium 2016は、マイクロエレクトロニクス回路やシステムにおいて、新たなトレンドやテスト、デバッグ、修復に関する新手法を探るため、IEEEにより開催される国際学会シンポジウムです。当社は、「Automotive Track 1: Automotive Test Challenges」セッションにおいて、車載機器市場向け製品に対して、品質改善事例を中心にデータマイニングを応用した品質改善手法について、発表致します。ファブレスメーカーとして、製造工程設計及び製造委託管理の実績を踏まえ、車載機器市場が要請する厳しい品質要求に適合させるための手法について国際学会シンポジウムで発表しつつ、製造委託先やテスターメーカーに対する提言、学会参加専門家からのフィードバックにより、さらなる品質管理の向上に反映させていく方針です。

 当社は、車載機器市場や産業機器市場が求める厳しい品質管理を実行するために、独自の製造工程監視システムQuEST(Quality Enhacement with Statistic Tool)を用いており、既に5年間を超える運用実績と膨大なテストデータを蓄積しております。ファブレスLSIメーカーとして、製造委託先メーカーとの間で、密接に連携しながら、当社製品の製造工程情報を監視するとともに、製造委託先と取り決めたコントロールプランに基づき、製造委託先で取得された工程情報および品質情報を、オンラインで受領し、工程毎の時系列傾向、品質分布、頻出度分布、品質回帰分析といったTS16949が要求する統計的手法を用いたデータ解析を可能としています。QuESTは、日別、週別、月別に、担当部門の全関係者に配信する機能を備えており、製造に際して必須となる、ばらつき、安定性管理、工程能力などの基本的概念を全社で理解し、利用することにも活用しています。

 製造工程監視システムQuESTの活用を通じて、製造委託先と頻繁に情報交換および指示を行うことにより、安定して優れた品質の製品の製造が可能となります。工程内異常があった場合には、その原因特定と製造委託先への迅速な対策の指示にも効果を発揮します。また、より優れたコストパフォーマンスに改善する観点から、歩留を含めた製品特性とプロセス管理パラメータとの相関を製造委託先と共有し、目標とする品質とコストへ向けた管理を行っています。また、当社が分析した情報の一部を製造委託先にフィードバックすることにより、製造委託先との間で、長期的に安定したパートナーシップ関係を構築することにも寄与しています。

米国電気電子学会(IEEE)について
 米国電気電子学会(IEEE)は、世界160ヶ国以上に43万人を超える会員を有する世界最大の技術国際学会であり、人類社会に有益な技術革新の前進に貢献することを主要な目的としています。IEEE は “アイ・トリプル・イー” と読み、Institute of Electrical and Electronics Engineersの略です。IEEEは米国公益法人法で公益法人に指定されています。
 
ご注意:本文中における各企業名、製品名等は、それぞれの所有者の商標あるいは登録商標です。
<お客様各位お問い合せ先>
ザインエレクトロニクス株式会社 営業部(お問合せフォーム